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當前位置：首頁產品中心光譜系統漫反射率測試系統S-MRS系列漫反射率測試系統

漫反射率測試系統

產品簡介

漫反射率測試系統光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）,漫反射率測試系統光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

產品型號：S-MRS系列
更新時間：2025-01-22
廠商性質：生產廠家
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S-MRS系列漫反射率測試系統應用：

• 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

• 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm；（近紅外區）

• 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）

• 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

S-MRS系列漫反射率測試系統特點

• 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

• 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm；（近紅外區）

• 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內；（近紅外區）

• 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

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