新聞資訊
NEWS INFORMATION顯微分光膜厚儀采用檢量線法和FP法,可防止在對焦時造成的損壞
2023-02-06 顯微分光膜厚儀利用光學干涉儀和自有的高精度分光光度計,實現非接觸、無損、高速、高精度的薄膜厚度測量。光學干涉測量法是一種使用分光光度計的光學系統獲得的反射率來確定光學膜厚的方法。以涂在金屬基板上的薄膜為例,從目標樣品上方入射的光被薄膜表面(R1)反射。此外,穿過薄膜的光在基板(金屬)和薄膜界面(R2)處被反射。測量此時由于光程差引起的相移所引起的光學干涉現象,并根據得到的反射光譜和折射率計算膜厚的方法稱為光學干涉法。顯微分光膜厚儀的作用特點:1、自動對焦作用。配備激光自動對焦...中階梯光譜儀具有穩(wěn)態(tài)光譜的測量,可配CCD探測器
2022-11-29 中階梯光譜儀采用中階梯光柵+棱鏡色散的高通量光路設計,科學級制冷面陣CCD探測器,使其同時具備高分辨和高靈敏度特性,可以配合ICP光源及進樣系統組成ICP整機,也可搭建各種高分辨光譜測試系統,充分發(fā)揮其寬譜高分辨、高靈敏優(yōu)勢。中階梯光譜儀產品特點:1、無轉動部件,全光譜無遺漏成像2、全譜范圍,高分辨率(0.03nm@200nm),干擾光譜重疊弱3、體積小,使用簡單,可在較小成像焦距下輕松獲得高的光譜分辨率4、根據需要獲取的信號性質不同,可以選配不同的探測器5、穩(wěn)態(tài)光譜的測量,...公司郵箱: qgao@buybm.com
服務熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號:滬ICP備19020138號-2
技術支持:化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml